臻邁_HITACHI鍍層厚度分析儀X-STRATA920
產(chǎn)品概述:
X-Strata920系列X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。
X-Strata920可同時(shí)測(cè)定最多5層、25種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶(hù)自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿(mǎn)足您特定的分析報(bào)告格式要求;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
產(chǎn)品性能和標(biāo)準(zhǔn):
使用廣受推崇的能量色散X射線(xiàn)熒光(EDXRF)技術(shù), X-Strata920可實(shí)現(xiàn)如下測(cè)試要求:
符合ISO3497標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法:金屬鍍層X(jué)射線(xiàn)光譜法測(cè)量鍍層厚度。
符合ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法:X射線(xiàn)光譜儀測(cè)量鍍層厚度,包括金屬和部分非金屬鍍層。
同時(shí)分析25種元素。
厚度 | 公差 第一層 | 公差 第二層 | 公差 第三層 |
≤20 µin (0.5um) | + 1 µin或更優(yōu) | + 2 µin或更優(yōu) | + 3 µin或更優(yōu) |
>20 µin | + 5%或更優(yōu) | + 10%或更優(yōu) | + 15%或更優(yōu) |
蔣主文
Copyright & 2007-2023 chmytech.com. 昆山臻邁電子科技有限公司 版權(quán)所有 ICP:蘇ICP備12345678號(hào)
技術(shù)支持:云祺科技