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產(chǎn)品類別：X射線熒光元素分析儀
產(chǎn)品名稱：臻邁_日立XRF RoHS元素分析儀EA1000AIII
產(chǎn)品詳情
臻邁_日立XRF RoHS元素分析儀EA1000AIII
EA1000AIII的優(yōu)勢(shì)：
大幅度的提高吞吐量
● 使用半導(dǎo)體檢測(cè)器/SDD檢測(cè)器
● 分析線自動(dòng)切換
● 采用精度管理軟件
提高操作性
● 材料判斷功能
● 波峰的自動(dòng)解析和結(jié)果考察
● 數(shù)據(jù)的集中管理
管理元素的增加
● 多元素對(duì)應(yīng)
EA1000AIII功能特點(diǎn)：
當(dāng)含有元素的波峰重合時(shí)，儀器會(huì)自動(dòng)根據(jù)統(tǒng)計(jì)誤差進(jìn)行判斷，自動(dòng)選擇最適合的分析線。
通過(guò)預(yù)存測(cè)量類別樣品的材質(zhì)，自動(dòng)選擇分析條件。
EA1000AIII功能特點(diǎn)：
當(dāng)含有元素的波峰重合時(shí)，儀器會(huì)自動(dòng)根據(jù)統(tǒng)計(jì)誤差進(jìn)行判斷，自動(dòng)選擇最適合的分析線。
通過(guò)預(yù)存測(cè)量類別樣品的材質(zhì)，自動(dòng)選擇分析條件。
分析條件:為了正確的分析測(cè)量物質(zhì)，對(duì)必要的設(shè)定條件，有害物質(zhì)的濃度基準(zhǔn)等根據(jù)不同的樣品材質(zhì)進(jìn)行設(shè)定。
EA1000AIII技術(shù)規(guī)格：
EA1000AIII技術(shù)規(guī)格：
| 概述 |
測(cè)定原理：X射線熒光分析法 測(cè)定方法：能量色散型 測(cè)定對(duì)象：固體、液體、粉狀 測(cè)定范圍：鋁(13Al) ~ 鈾(92U) |
| X射線源 |
小型空冷式X射線管:Rh靶 X射線照射方向: 下方垂直照射型 管電壓: 5~50kv 管電流: 1~1000μA 冷卻方式: 空冷(包括風(fēng)扇) 照射面積: φ1mm, φ3mm, φ5mm （3種自動(dòng)交換） 一次濾光片：5種可切換(含OPEN) |
| 檢測(cè)器 |
類型：Si半導(dǎo)體檢測(cè)器/ Vortex®SDD硅漂移探測(cè)器（均無(wú)需液氮） 制冷方式：電子制冷 計(jì)數(shù)方式：數(shù)字濾光片計(jì)數(shù)處理 分辨率：小于285 eV |
| 樣品室 |
樣品尺寸：最大 W370mm x D320mm x H120mm 樣品觀察：彩色CCD攝影機(jī) 測(cè)定氣氛：大氣 |
| 數(shù)據(jù)處理部 |
主機(jī)：PC/AT互換機(jī) 內(nèi)存：4GB（32bit） HDD：500GB以上 分辨率：1024*768點(diǎn)以上 CD: CD-ROM驅(qū)動(dòng) OS: Windows7(32bit) |
| 軟件 |
篩選分析：簡(jiǎn)單操作軟件 定性分析：檢測(cè)/解析軟件 定量分析：工作曲線法 (Cd、Pb、Hg、Br、Cr、Cl) 塊體分析FP法、薄膜分析FP法 應(yīng)用性: 自動(dòng)校正功能（能量校正，半峰寬校正） 時(shí)間節(jié)省功能:自動(dòng)判別材質(zhì)，自動(dòng)選擇分析程式 分析結(jié)果建表功能 分析結(jié)果報(bào)告書(shū)創(chuàng)建功能 |
| 其他 |
溫度條件：10℃-30℃（溫度變化在2℃以內(nèi)） 濕度條件：40%-70%（不結(jié)霜） 電源：AC100V-240V±10%,5A，帶地線插座 裝置尺寸：W520mm×D600mm×H445mm 裝置重量：60Kg |
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